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ICP-OES測量儀器 ICP-OES測量機器設(shè)備功能強大的軟件系統(tǒng)，簡化分析方法的開發(fā)過程。應(yīng)用工程師加入設(shè)計團隊，為用戶量身打造簡潔、舒適的操作體驗。

ICP-OES測定儀器 ICP-OES測定機器設(shè)備可廣泛適用于冶金、地質(zhì)、材料、環(huán)境、食品、醫(yī)藥、石油、化工、生物、水質(zhì)等各領(lǐng)域的元素分析。

ICP-OES測試儀器 ICP-OES測試化驗機器設(shè)備檢出限低 ： 一般在ug/L（ppb）級. （1ug/ml Pb標準溶液性背比&ge5倍 ） 測量線性范圍： （相關(guān)系數(shù)0.9998）

ICP-OES測試儀 ICP-OES測試檢測機器設(shè)備是多元素順序測量的分析測試儀器。 檢測分析ICP-OES儀器設(shè)備由掃描分光器、射頻發(fā)生器、試樣引入系統(tǒng)、光電轉(zhuǎn)換、控制系統(tǒng)、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)、分析操作軟件組成。

ICP-OES分析儀器 ICP-OES分析機器設(shè)備光柵規(guī)格：離子刻蝕全息光柵；刻線密度3600線/mm, 刻線面積：80×110mm （可選用刻線密度2400線/mm, 刻線面積：80×110mm）。 化驗分析ICP-OES儀器設(shè)備數(shù)據(jù)采集是通過串口與電腦連接，從而簡化了電路使連接更加便捷

ICP-OES分析儀 電感耦合等離子體發(fā)射光譜ICP-OES機器設(shè)備測試30多種元素，主要有Fe、Na、Mg、Ni、V、 Ca、Pb、Mo、Mn、Cr、Co、、As等。 電感耦合等離子體發(fā)射光譜ICP儀器設(shè)備波長示值誤差和重復(fù)性：波長示值誤差：± 0.03nm 重復(fù)性= 0.005nm

ICP-OES檢測儀器 ICP-OES檢測機器設(shè)備可分析對金屬材料質(zhì)量影響很大的As、Bi、Pb、Sb、Sn等雜質(zhì)元素。 測定測量ICP-OES儀器設(shè)備可以對醫(yī)療、衛(wèi)生、農(nóng)業(yè)環(huán)保、商品、食品質(zhì)量等檢測 。

ICP-OES檢測儀 ICP-OES光譜檢測機器設(shè)備可真正替代順序型ICP和原子吸收光譜儀的分析儀器，可以使毫無ICP使用經(jīng)驗的人員充分享受該儀器所帶來的便利，以強大的功能、極低的運行成本完成測試工作。 光譜ICP-OES檢測機器設(shè)備性能ICP光譜儀分析速度快，準確度，使用成本低，可以應(yīng)用油品中污染物分析。